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分析計測センター


概要
当センターは大型分析計測装置を集中的に維持管理して学内の教育・研究の用に供するとともに、学内外の共同研究の推進を図ることを目的として平成2年に工学部分析計測施設として設立されました。
その後、平成9年に総合工学研究所の附属施設となり、平成26年4月より、分析計測センターと改名しました。
総合工学研究所の名称変更に伴い、令和2年度より先端研究センターの附属施設となりました。
センター場所
3号館1階にあります。
平成20年度には、32号館1階に分析計測センター分室が新設され、一部の装置が設置されています。

主要分析装置
走査型電子顕微鏡
日本電子製 JSM-6510LA
走査型電子顕微鏡
日立製 S-4300
透過型電子顕微鏡
日本電子製 JEM-2100F
レーザー共焦点顕微鏡
Carl Zeiss製 LSM710
走査プローブ顕微鏡
日立ハイテクサイエンス製 AFM5100N
デジタルマイクロスコープ
キーエンス製 VHX-7000
核磁気共鳴装置
日本電子製 JNM-ECS400
核磁気共鳴装置
日本電子製 JNM-ECA400
X線光電子分析装置
アルバック・ファイ製 VersaProbe CU
自動X線回折装置
リガク製 RINT-2100
全自動多目的X線回折装置
リガク製 SmartLab
薄膜構造評価用X線回折装置
リガク製 ATX-E
湾曲IP X線回折装置
リガク製 RINT RAPID
CCD単結晶自動X線構造解析装置
リガク製 Saturn 70
極微小結晶用単結晶構造解析装置
リガク製 VariMax
蛍光X線分析装置
リガク製 PrimusIV-MAP
質量分析装置
日本電子製 JMS-T100CS
ICP 発光分析装置
島津製作所製 ICPE-9810
レーザ回折式粒子径分布測定装置
島津製作所製 SLAD-2300
フーリエ変換赤外分光分析装置
日本分光製 FT/IR-4700 One